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超分辨光学成像研究取得新进展——利用结构分辨指数来判断超分辨定位成像实验结束时间
材料来源:武汉光电国家研究中心           录入时间:2019/5/24 22:49:03

超分辨荧光成像是本世纪显微光学成像领域最重要的突破之一,被授予了2014年诺贝尔化学奖。其中,超分辨定位成像是一种代表性的超分辨荧光成像技术。该技术将单分子荧光成像与高精度分子定位算法相结合,在较简单的光学成像系统上,实现了20~30 nm的超高空间分辨率,为生物医学研究提供了前所未有的机会。但是,在超分辨定位成像实验过程中,为了尽量提高最终图像的分辨率,研究人员普遍采集尽可能多的原始图像,导致由于大量图像过采样带来的数据传输和存储资源浪费。

在武汉光电国家研究中心Britton Chance生物医学光子学研究中心黄振立教授的指导下,2016级博士生王钰洁提出了利用结构分辨指数来判断超分辨定位成像实验终止时间的方法。该方法在不牺牲超分辨图像空间分辨能力的前提下,大大减少了原始图像的过采集数量,节约了数据传输和存储资源。该研究成果以题为“Structure-resolving index: an efficient criterion for ending image acquisition in super-resolution localization microscopy”论文发表在2019年6月1日Optics Letters上( Vol. 44, Iss. 11, pp. 2633-2636)。

图. 不同实验终止方法在U-2 OS细胞上的成像结果比较

 

(a-b)核孔复合物   (c-e)微管


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