广告:时间还剩10
视频      在线研讨会
半导体激光器 激光切割 激光器
新闻聚集
使用飞点扫描仪实现1秒内手机中框的测量
材料来源:普雷茨特光学测量          

在消费类电子领域的大规模生产线中,光学传感器不仅需要高精度和高速度,还需要进行在线测量。不同材料之间的相互作用和这些产品的复杂几何形状给质量控制工作带来了挑战。

普雷茨特 3D 测量技术可以帮助消费类电子领域应对这些挑战,确保量产符合标准工艺要求。

手机中框即前面板和后盖中间衔接区域,诸如卡槽、按键等部件均会固定在此。为了实现手机的正常功能,需要确保量产的尺寸、形貌等符合标准工艺。如果使用传统方法,很难实现应检尽检,将会大大延缓量产进程。

本次我们将以手机中框的检测,来展示普雷茨特飞点扫描仪 FSS 80 的表现。

01 测量要求

如下图片均为不同品牌手机的中框网图。

从图中可以看出,在测量中框时,容易存在诸如测量点离散、元件高低不平有遮挡、盲孔等问题。而如果使用传统的三角测量方法,极易出现测量死角。

而中框位置需要实现对平面度、位置度、段差、孔深等的测量,同时在实际量产过程中,CT 要求 1s 以内需要完成,精度要达到μm 级别。

02 解决方案

解决方案:红外干涉传感器 FSS 80

其视野直径可达 80mm,可实现 1s 以内高精度测量离散区域的测量,不受元件遮挡,测量无死角。

从下述图片中可以清晰地看出各个点之间的段差及平面度信息,同时点击可查看精确到亚微米的测量数据。

03 飞点扫描仪 FSS 80

Precitec 飞点扫描仪 FSS 80 结合了超精密干涉型点感测器和灵活 2D 扫描光学系统的优点。使用定制扫描模式对样品进行选择性扫描,可确保仅测量样品的相关区域,因而节省了线上或离线品质控制的时间。

普雷茨特最新的光学探头与 CHRocodile 传感器 的结合使用使高速光学相干断层扫描成像在厚度和形貌检测中的应用成为可能。为在线和离线质量监控和 3D 检测提供的尖端技术可用于各种不同的材料和表面。

04 技术参数

转自:普雷茨特光学测量

注:文章版权归原作者所有,本文内容、图片、视频来自网络,仅供交流学习之用,如涉及版权等问题,请您告知,我们将及时处理。


上一篇:英诺激光拟成立激光智造科技产业投... 下一篇:在可持续清洁能源发展之路上,激光...

版权声明:
《激光世界》网站的一切内容及解释权皆归《激光世界》杂志社版权所有,未经书面同意不得转载,违者必究!
《激光世界》杂志社。



激光世界独家专访

 
 
 
友情链接

一步步新技术

洁净室

激光世界

微波杂志

视觉系统设计

化合物半导体

工业AI

半导体芯科技

首页 | 服务条款 | 隐私声明| 关于我们 | 联络我们
Copyright© 2025: 《激光世界》; All Rights Reserved.