随着AI大模型参数量突破10万亿级，数据中心带宽需求呈指数级增长。在此背景下保偏FAU（Fiber Array Unit, 光纤阵列单元）以及ELSFP (External Laser Small Form-Factor Pluggables，外接激光光源可插拔模块) 迎来了潜在的大规模发展。

为了更好地满足数据中心对光通信设备性能的要求，Santec 推出了全球首款多通道偏振消光比PER测试仪PEM-400。其能够对保偏FAU、ELSFP等光通信设备的偏振消光比进行精准测量，确保这些设备在数据中心的高速通信网络中发挥出最佳性能，从而为AI大模型的高效运行提供有力支撑。

解决目前多通道PER测试痛点

针对多通道保偏FAU以及ELSFP的PER测试，目前行业内只有单通道PER测试仪，用户需要手动通过夹具调节对准每个通道来测试PER，测试效率低下并且因为手动对准夹具引入了不确定因素导致PER测试结果不准确。

PEM-400 通过在高速功率计前设置旋转起偏器来测量多通道高达 30 dB 的偏振消光比和偏振角，同时，还可以测量无源组件的插入损耗（insertion Loss, IL）或有源组件的输出功率。

产品亮点

多通道 PER 测试

集成了Santec高稳定的光开关（repeatability± 0.005 dB）实现了优越的多通道PER测量，输出端口高达24个。

高达30dB的PER测量能力

独特的光学设计，使其拥有高达30dB PER的测量能力。

一次连接完成所有测试

无需重新定位被测产品的通道或者使用校准平台来耦合被测产品，实现一次连接即可完成所有通道的PER, 插入损耗（或光功率）以及偏振角度的测量。

快速测量

独有专利3mm直径的探测器，使其拥有行业内最快的自动化测试速度，一根12芯的光纤阵列单元FAU能在30s内完成所有通道的测量。

测量参数

偏振消光比PER, 偏振角度Angle，插入损耗IL（或者绝对光功率Absolute Power）。

可定制化

灵活的设计，使其实现定制化，满足不同波长偏振光源以及不同通道的测量需求。

外置探头

即将发布的外置探头版本，能满足客户复杂的测试系统环境的搭建需求。

测试系统

1. 多通道光纤阵列FAU的PER，Angle以及IL测量系统(需要参考跳线)

2. 多通道光纤阵列FAU的PER，Angle测量系统（无需参考跳线）

3. 有源器件测试，如ELSFP, 测量PER以及绝对功率等参数

来源：santec圣德科

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